光缆接头和熔接衰减关系（光缆熔接接头损耗）

大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于光缆接头和熔接衰减关系的问题，于是小编就整理了1个相关介绍光缆接头和熔接衰减关系的解答，让我们一起看看吧。

接头会产生一定的衰减，活动接头在0.15-0.5dB之间，熔接接头一般在0.03-0.2dB之间，一般在0.05-0.08dB左右，两个方向的衰减不一样，目前没有详细的计算方法，不同的波长也不一样。

影响光纤熔接损耗的因素较多，大体可分为光纤本征因素和非本征因素两类。光纤本征因素是指光纤自身因素，主要有四点。光纤模场直径不一致；两根光纤芯径失配；纤芯截面不圆；纤芯与包层同心度不佳。

光纤熔接衰减大一般是：光缆本身质量问题，光纤芯不值正圆而是椭圆。熔接点工艺问题，衰减过大。成端接头过脏。光线路测试仪本身问题。

在理想的条件下，光缆的传输损耗按0.25db/km来计算。这个是对的，但是也有光缆的传输损耗按0.36db/km来计算光缆接头的直接熔接要气是不能超过0.08db的并不是他说的0.3db.个法兰接头一般损耗不超过0.8db为正常，并不是他说的1-3db间为正常。

由于光纤的模场直径影响它的后向散射，因此在接头两边的光纤可能会产生不同的后向散射，从而遮蔽接头的真实损耗。如果从两个方向测量接头的损耗，并求出这两个结果的平均值，便可消除单向OTDR测量的人为因素误差。

到此，以上就是小编对于光缆接头和熔接衰减关系的问题就介绍到这了，希望介绍关于光缆接头和熔接衰减关系的1点解答对大家有用。